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    電子元器件常用的檢測方法之電阻器的檢測方法與經驗

    2022-10-17 13:31:08  來源:上海
    之電(dian)阻器的檢測方法與經驗
    電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)元器(qi)件(jian)(jian)(jian)是元件(jian)(jian)(jian)和(he)器(qi)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)總稱(cheng)。電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)元件(jian)(jian)(jian):指在工(gong)廠生產(chan)加工(gong)時不改變(bian)分子(zi)(zi)(zi)成(cheng)分的(de)(de)成(cheng)品(pin)。如(ru)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻器(qi)、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)感(gan)器(qi)。因為它(ta)本(ben)身(shen)不產(chan)生電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi),它(ta)對(dui)(dui)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)無(wu)控制(zhi)和(he)變(bian)換作用,所(suo)以又稱(cheng)無(wu)源器(qi)件(jian)(jian)(jian)。電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)器(qi)件(jian)(jian)(jian):指在工(gong)廠生產(chan)加工(gong)時改變(bian)了分子(zi)(zi)(zi)結(jie)構的(de)(de)成(cheng)品(pin)。例如(ru)晶體管、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)管、集成(cheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路。因為它(ta)本(ben)身(shen)能產(chan)生電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi),對(dui)(dui)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)有控制(zhi)、變(bian)換作用(放大、開關、整流(liu)(liu)(liu)、檢波、振蕩和(he)調制(zhi)等(deng)),所(suo)以又稱(cheng)有源器(qi)件(jian)(jian)(jian)。按(an)分類標準,電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)器(qi)件(jian)(jian)(jian)可分為12個大(da)類,可(ke)歸納(na)為真空電子(zi)器(qi)(qi)件和半導體器(qi)(qi)件兩大(da)塊。電子(zi)元(yuan)器(qi)(qi)件發展史其實就是一(yi)部濃縮(suo)的(de)(de)電子(zi)發展史。電子(zi)技(ji)(ji)術是十(shi)九世(shi)紀(ji)(ji)末(mo)、二十(shi)世(shi)紀(ji)(ji)初(chu)開始發展起來的(de)(de)新(xin)興技(ji)(ji)術,二十(shi)世(shi)紀(ji)(ji)發展*迅速,應用*廣泛,成為近代(dai)科學技(ji)(ji)術發展的(de)(de)一(yi)個重要標志。

    電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)發展離(li)不(bu)開電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)我們這(zhe)里杰創立簡單(dan)介紹我們常用(yong)到的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法(fa)(fa)以(yi)及一些檢(jian)(jian)測(ce)(ce)經(jing)(jing)驗。元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)是一項(xiang)基(ji)本功,如何準確有(you)效地檢(jian)(jian)測(ce)(ce)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)相關(guan)參數(shu),判斷元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)是否正常,不(bu)是一件(jian)(jian)(jian)千(qian)篇(pian)一律的(de)(de)(de)事,必須根據不(bu)同的(de)(de)(de)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)采用(yong)不(bu)同的(de)(de)(de)方法(fa)(fa),從(cong)而判斷元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)正常與否。特別對(dui)初學者來說(shuo),熟練掌握常用(yong)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)方法(fa)(fa)和(he)經(jing)(jing)驗很有(you)必要,以(yi)下對(dui)常用(yong)電(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)經(jing)(jing)驗和(he)方法(fa)(fa)進(jin)行介紹供參考。
    一(yi)、電阻器的檢測方法與經驗:
    1.固定(ding)電阻器的檢測。
      A.將兩表筆(不分正(zheng)負)分(fen)別與電阻(zu)的(de)兩(liang)端引(yin)腳(jiao)相接(jie)即可測出實際(ji)電阻(zu)值。為了提高測量精(jing)(jing)度(du),應(ying)根據被測電阻(zu)標(biao)稱值的(de)大小(xiao)來選(xuan)擇(ze)量程。由于歐姆擋刻(ke)度(du)的(de)非(fei)線性(xing)關系,它的(de)中間(jian)一段分(fen)度(du)較為精(jing)(jing)細,因(yin)此應(ying)使指針(zhen)指示值盡可能落到(dao)刻(ke)度(du)的(de)中段位(wei)置,即全刻(ke)度(du)起始的(de)20%~80%弧度(du)范圍(wei)內,以使測量更(geng)準確。根據(ju)電(dian)阻誤差(cha)等級不同(tong)。讀(du)數(shu)與標稱(cheng)阻值之間分別(bie)允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范(fan)圍,則說明該(gai)電阻值(zhi)變(bian)值(zhi)了。
      B 注意:測試時,特別是在測幾十kΩ以上(shang)阻(zu)值(zhi)的(de)電阻(zu)時,手(shou)不要觸及表筆和電阻(zu)的(de)導電部分;被檢測(ce)的(de)電阻(zu)從電路中(zhong)(zhong)焊下(xia)來,至(zhi)少要焊開(kai)一(yi)個頭,以免電路中(zhong)(zhong)的(de)其它組件對測(ce)試產(chan)生影響,造成測(ce)量誤差;色(se)環電阻(zu)的(de)阻(zu)值(zhi)雖然能以色(se)環標志來確(que)定,但(dan)在使用時*好還是用萬用表測(ce)試一(yi)下(xia)其實際阻(zu)值(zhi)。
    2.水(shui)泥電阻的檢測(ce)。
      檢測水泥電阻(zu)的方法及注意事(shi)項與檢測普通固定(ding)電阻(zu)完全相同。
    3.熔斷電(dian)阻(zu)器的(de)檢測。
      在電(dian)路中,當熔(rong)(rong)斷(duan)(duan)電(dian)阻(zu)(zu)器熔(rong)(rong)斷(duan)(duan)開(kai)路后,可根(gen)據經驗作出判(pan)斷(duan)(duan):若發(fa)(fa)現(xian)熔(rong)(rong)斷(duan)(duan)電(dian)阻(zu)(zu)器表(biao)面發(fa)(fa)黑或燒焦,可斷(duan)(duan)定(ding)是其(qi)負荷過(guo)重,通過(guo)它的(de)電(dian)流(liu)超過(guo)額定(ding)值很多倍所(suo)致;如(ru)果其(qi)表(biao)面無(wu)任何痕跡(ji)而開(kai)路,則表(biao)明流(liu)過(guo)的(de)電(dian)流(liu)剛好等于(yu)或稍大于(yu)其(qi)額定(ding)熔(rong)(rong)斷(duan)(duan)值。對(dui)于(yu)表(biao)面無(wu)任何痕跡(ji)的(de)熔(rong)(rong)斷(duan)(duan)電(dian)阻(zu)(zu)器好壞(huai)的(de)判(pan)斷(duan)(duan),可借助萬用表(biao)R×1擋來測(ce)量,為保證測(ce)量準確,應將熔斷(duan)電阻(zu)器(qi)一端從(cong)電路上焊下。若測(ce)得的(de)阻(zu)值為無窮大,則說明此熔斷(duan)電阻(zu)器(qi)已失效開路,若測(ce)得的(de)阻(zu)值與(yu)標稱(cheng)值相(xiang)差甚(shen)遠,表(biao)明電阻(zu)變值,也(ye)(ye)不宜再使用(yong)。在(zai)維修(xiu)實踐中發現,也(ye)(ye)有(you)少數熔斷(duan)電阻(zu)器(qi)在(zai)電路中被擊穿短路的(de)現象,檢測(ce)時也(ye)(ye)應予(yu)以注意。

    4.電位器的檢(jian)測。
      檢查電(dian)位(wei)器(qi)時,首先要轉動旋柄,看看旋柄轉動是否平滑,開(kai)關是否靈活,開(kai)關通、斷(duan)時“喀噠”聲(sheng)是否清脆,并聽(ting)一聽(ting)電(dian)位(wei)器(qi)內(nei)部(bu)接觸(chu)點(dian)和(he)電(dian)阻體摩擦的聲(sheng)音,如有“沙沙”聲(sheng),說明質量不好。用萬(wan)用表(biao)測試(shi)時,先根(gen)據被測電(dian)位(wei)器(qi)阻值的大(da)小,選擇好萬(wan)用表(biao)的合(he)適電(dian)阻擋位(wei),然(ran)后可按下述方(fang)法進行(xing)檢測。
      A.用萬用表的歐(ou)姆擋測“1、“2兩端,其讀(du)數應為電位器(qi)的(de)標稱阻(zu)值(zhi),如萬用(yong)表(biao)的(de)指針(zhen)不動或阻(zu)值(zhi)相(xiang)差很多,則(ze)表(biao)明該電位器(qi)已損(sun)壞。
      B.檢測電位器的活動(dong)臂與電阻片(pian)的接(jie)觸是(shi)否良好(hao)。用(yong)萬用(yong)表的歐(ou)姆檔測“1、“2(或“2、“3)兩端(duan)(duan),將電(dian)位器的轉軸按逆時(shi)針(zhen)方向旋至接近“關”的位置,這(zhe)時(shi)電(dian)阻(zu)值越(yue)小越(yue)好。再順(shun)時(shi)針(zhen)慢慢旋轉軸柄(bing),電(dian)阻(zu)值應逐漸增大(da),表(biao)頭中的指針(zhen)應平穩移動(dong)。當軸柄(bing)旋至極(ji)端(duan)(duan)位置“3時(shi),阻值應接近電(dian)位器的標稱值。如(ru)萬用表的指針在電(dian)位器的軸柄(bing)轉動(dong)過程中(zhong)有跳動(dong)現(xian)象,說明活動(dong)觸(chu)點有接觸(chu)不良的故障。
    5.正溫度(du)系數熱敏電阻(PTC)的檢(jian)測(ce)。
      檢測時,用萬(wan)用表R×1擋(dang),具體可分兩(liang)步操(cao)作:
      A.常溫檢測(室(shi)內溫度接近25);將兩表筆接觸PTC熱(re)敏電(dian)阻(zu)的兩(liang)引腳測出其實際阻(zu)值,并與標稱阻(zu)值相(xiang)對比,二者相(xiang)差在±2Ω內(nei)即為正常(chang)。實際阻值(zhi)若(ruo)與標稱(cheng)阻值(zhi)相(xiang)差過大,則(ze)說(shuo)明其性能不良或已損壞。
      B.加(jia)溫檢測;在常溫測試正常的基礎上,即可進行第二步測試—加(jia)溫檢測,將(jiang)一熱源(例如電(dian)烙鐵)靠近PTC熱(re)敏(min)電阻對其加(jia)熱(re),同時用(yong)萬用(yong)表監測其電阻值是(shi)否隨(sui)溫(wen)度的升高而增大(da),如是(shi),說明熱(re)敏(min)電阻正(zheng)常,若阻值無(wu)變化,說明其性(xing)能變劣(lie),不(bu)能繼續使用(yong)。注意不(bu)要使熱(re)源與PTC熱敏(min)電阻靠得過(guo)近或直接(jie)接(jie)觸熱敏(min)電阻,以防止將(jiang)其燙壞(huai)。
    6.負溫度系數熱敏電阻(NTC)的檢測。
    (1)、測量標稱電阻值Rt
      
    用萬(wan)用表測量NTC熱敏(min)電阻(zu)的方法與測量(liang)普(pu)通固定電阻(zu)的方法相(xiang)同(tong),即(ji)根據NTC熱敏電阻(zu)的標(biao)稱阻(zu)值選擇合適的電阻(zu)擋可直接(jie)測出(chu)Rt的(de)實際值(zhi)。但因NTC熱敏電阻對溫度很(hen)敏感,故測試時(shi)應(ying)注意以下幾點:
      A.Rt是生(sheng)產廠(chang)家在環境溫度為25時所測得的(de),所以用萬用表測量Rt時(shi),亦應在環境溫度(du)接近(jin)25時進行,以(yi)保證測試的可信度。
      B.測量(liang)功率不得超過規定值,以免電流熱效(xiao)應引起測量(liang)誤差(cha)。
      C.注意正確操作。測(ce)試時,不要用(yong)手捏住熱敏(min)電阻(zu)體,以防止人體溫(wen)度對測(ce)試產生影響(xiang)。
    (2)、估測溫度系數(shu)αt
    先在室溫t1下測得電阻值Rt1,再用電(dian)烙(luo)鐵作(zuo)熱(re)源,靠近熱(re)敏電(dian)阻Rt,測出電阻值RT2,同時(shi)用溫度計測出此時(shi)熱敏電(dian)阻RT表面的(de)平均溫度t2再進行計(ji)算。
    7.壓(ya)敏電(dian)阻的檢測。
      用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻,均為無窮大(da),否則,說明漏電流大(da)。若所測電阻很小(xiao),說明壓敏電阻已損(sun)壞,不(bu)能(neng)使用。
    8.光(guang)敏(min)電阻的檢(jian)測。
      A.用(yong)(yong)一黑紙片將光(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)的(de)透光(guang)窗口遮(zhe)住,此(ci)時(shi)萬(wan)用(yong)(yong)表的(de)指針基本保持不動,阻(zu)值(zhi)接(jie)近(jin)無(wu)窮大。此(ci)值(zhi)越大說明光(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)性(xing)能越好。若此(ci)值(zhi)很小(xiao)或接(jie)近(jin)為零,說明光(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)已燒穿損壞,不能再(zai)繼續使用(yong)(yong)。
      B.將一光(guang)(guang)(guang)源對(dui)準(zhun)光(guang)(guang)(guang)敏電阻(zu)的(de)透(tou)光(guang)(guang)(guang)窗口,此時(shi)萬用表(biao)的(de)指針(zhen)應(ying)有較大(da)幅度的(de)擺動(dong),阻(zu)值(zhi)明顯減小。此值(zhi)越小說明光(guang)(guang)(guang)敏電阻(zu)性能越好。若(ruo)此值(zhi)很(hen)大(da)甚至無窮大(da),表(biao)明光(guang)(guang)(guang)敏電阻(zu)內部(bu)開路(lu)損(sun)壞,也不(bu)能再繼續使用。
      C.將光(guang)(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)透光(guang)(guang)窗口對準入射光(guang)(guang)線,用小黑紙片(pian)在光(guang)(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)的(de)遮光(guang)(guang)窗上部晃(huang)(huang)動(dong),使其間(jian)斷受(shou)光(guang)(guang),此時萬用表指針(zhen)應隨(sui)(sui)黑紙片(pian)的(de)晃(huang)(huang)動(dong)而(er)左右擺動(dong)。如(ru)果萬用表指針(zhen)始(shi)終(zhong)停在某一位(wei)置不隨(sui)(sui)紙片(pian)晃(huang)(huang)動(dong)而(er)擺動(dong),說明光(guang)(guang)敏電(dian)(dian)阻(zu)的(de)光(guang)(guang)敏材料已經損壞。

     
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    丁女士
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